基于數(shù)據(jù)殘留時(shí)間的SRAM-PUF預(yù)選算法
電子學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù)： 10 2024-04-19
摘要： 靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（Static Random-Access Memory,SRAM）物理不可克隆函數(shù)（Physical Unclonable Function,PUF）利用參數(shù)設(shè)計(jì)完全相同的晶體管在制造過(guò)程中存在的工藝偏差，生成每塊芯片無(wú)法克隆的密鑰響應(yīng).由于SRAM-PUF內(nèi)部錯(cuò)誤分布的隨機(jī)性，密鑰重構(gòu)需要使用糾錯(cuò)碼，而糾錯(cuò)電路的面積與其糾錯(cuò)能力呈正相關(guān)，為了降低SRAM-... （共10頁(yè)）
APP 