一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的眾工藝角延遲預(yù)測方法

摘要： 在不同工藝角下，關(guān)鍵路徑呈現(xiàn)顯著差異，因此需要進(jìn)行大量的靜態(tài)時序分析，從而導(dǎo)致時序分析運(yùn)行時間較長。與此同時，隨著工藝尺寸的縮小，靜態(tài)時序分析的精度問題變得不容忽視。本文提出一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的適用于眾工藝角下的延遲預(yù)測方法，考慮工藝、電壓和溫度對時序的影響，利用基于自注意力Transformer模型對關(guān)鍵路徑進(jìn)行全局聚合編碼，預(yù)測眾工藝角下關(guān)鍵路徑的統(tǒng)計延遲。在EPFL基準(zhǔn)電路... （共7頁）